1 UVOD
V današnjem svetu smo obkroženi z najrazličnejšimi
električnimi napravami, ki generirajo električno,
magnetno ali elektromagnetno polje. Polja imajo lahko
nizke frekvence (npr. zemeljsko magnetno polje,
elektroenergetsko omrežje, polje v okolici večjih
porabnikov itd.) ali višje frekvence (npr. magnetna
resonanca v zdravstvu, polja v bližini oddajnih anten
itd.). Vsa ta polja lahko vplivajo na delovanje drugih
električnih naprav, kot tudi na varnost in zdravje ljudi
[1–4], zato za merjenje teh polj potrebujemo ustrezne
merilne instrumente [5–8], ki jih je treba periodično
kalibrirati [9]. V pomoč kalibracijam teh instrumentov
je bil sprejet standard IEEE Std. 1309:2013 [10], v
katerem so navedeni postopki, priporočila in merilna
oprema, ki jih je pri kalibraciji smiselno upoštevati in
uporabiti.
Izbira virov za generiranje električnega polja je
odvisna predvsem od frekvence polja, ki jo želimo
generirati. Polje z zelo visokimi frekvencami se
običajno generirajo s posebnimi antenami (angl. »horn
antenna«) v brezodbojni sobi [11,12] ali z uporabo
GTEM- celic [13]. Pri generiranju električnih polj z
nižjimi frekvencami (DC do ~250 MHz) se običajno
uporabljajo TEM-celice [14–17]. Pri TEM-celicah je
dovolj homogeno električno polje prisotno le v manjšem
delu v središču TEM-celice, zato so celice na splošno
primernejše le za manjše merilne instrumente in sonde
[18], če pa želimo kalibrirati večje merjence v
homogenem električnem polju, lahko kalibracijo pri
nižjih frekvencah izvedemo tudi v ploščatem
kondenzatorju [19–21].
V tem prispevku se osredotočamo na postopke za
kalibracijo nizkofrekvenčnih (NF) merilnikov
električnega polja v ploščatem kondenzatorju. V
eksperimentalnem delu (razdelek 2) opišemo celoten
merilni sestav, ki smo ga uporabili za generiranje in
merjenje električnega polja. V nadaljevanju predstavimo
rezultate kalibracije sonde električnega polja. Sprva
opišemo vse vire negotovosti, ki smo jih zajeli pri
kalibraciji (razdelek 3.1), pri čemer smo upoštevali vse
zahteve za izračun merilne negotovosti [22,23]. V
nadaljevanju prikažemo kalibracijo frekvenčnega odziva
in linearnosti sonde (razdelek 3.2), medtem ko v
zadnjem delu prispevka prikažemo še nekaj drugih
verifikacijskih meritev in največje vrednosti
električnega polja, ki jih lahko generiramo in uporabimo
pri kalibraciji merilnih sond (razdelek 3.3).
Prejet 10. julij, 2017
Odobren 22. avgust, 2017
mailto:marko.berginc@siq.si
142 BERGINC, PINTER, KOKALJ, VOLJČ, LINDIČ
2 EKSPERIMENTALNI DEL
Merilni sestav, ki smo ga uporabili za kalibracijo NF-
merilnikov električnega polja, je prikazan na sliki 1.
Električno polje se generira v ploščatem kondenzatorju
z velikostjo elektrod 1 m × 1 m. Razmik med
elektrodama kondenzatorja je nastavljiv med 45 in 55
cm, zato ga je treba pred vsako kalibracijo čim bolj
točno izmeriti. Na vsaj osmih različnih mestih (2× na
posamezni stranici elektrode) smo s kalibriranim
kljunastim merilom pomerili globini okvirja d1 in d3
(slika 1). Razdaljo med okvirjema obeh elektrod d2 smo
izmerili s kalibriranim kovinskim ravnilom, prav tako
na vsaj osmih različnih mestih, nato pa smo skupen
razmik med elektrodama d izračunali kot vsoto
posameznih izmerjenih razdalj (1).
1 2 3
d d d d    (1)
Za napetostni vir na kondenzatorju smo uporabili
kalibriran kalibrator Fluke 5520, ki omogoča stabilen,
točen in dovolj visok napetostni vir (330 oz. 1000 V) v
širšem frekvenčnem območju (10–100 kHz). Napetostni
vir je bil na kondenzator povezan z navadnim bakrenim
kablom s presekom 2 mm2, paziti je bilo treba le na
prebojno trdnost izolacije kabla, saj napetosti med
vodnikoma lahko dosegajo 1000 V. Aksialno električno
polje med elektrodama ploščatega kondenzatorja Ez smo
izračunali z uporabo (2), pri kateri U pomeni napetost
med elektrodama.
z
U
E
d
  (2)
Med kalibracijo mora biti merjeni instrument v
sredini kondenzatorja, zato je treba izdelati tudi ustrezen
nosilec, ki je za različne merjence nastavljiv po višini in
ki v čim manjši meri spremeni obliko in vrednost
električnega polja v kondenzatorju. V našem primeru
smo uporabili 4 cm debelo osnovno ploščo (Styrodur®)
z relativno dielektričnostjo r ≈ 1.2. Višino nosilca smo
po potrebi spreminjali z dodatnimi plastmi istega
materiala, ki je bil nameščen ob robovih osnovne
plošče, da je polje Ez pod in nad merjencem ostalo čim
bolj nespremenjeno (slika 1).
Kalibracija se je izvajala v navadnem laboratorijskem
okolju in ne v Faradayevi kletki, zato je v središču
ploščatega kondenzatorja lahko prisotno določeno
električno polje, čeprav na kondenzator ni priključena
napetost. V našem primeru se je vrednost polja v
središču kondenzatorja zaradi prisotnosti okoliškega
polja spreminjala med 0.54 V/m in 2.12 V/m, poleg
jakosti polja pa se je spreminjala tudi smer polja.
Za pravilno izvedbo kalibracije morajo biti nivoji
generiranega polja veliko nad vrednostmi prisotnega
okoliškega polja, sicer kalibracija ni pravilna, ali pa
mora biti okoliško polje ustrezno ovrednoteno in
vključeno v izračun skupne merilne negotovosti.
Slika 1: Stranski pogled na ploščati kondenzator z merjencem
(DUT) v sredini. Merjenec se nahaja na nosilcu iz plošče
Styrodur® (šrafirane oznake). Oznake d1, d2 in d3 pomenijo
posamezne meritve razdalje, ki v vsoti dajo skupno razdaljo
med elektrodama.
3 REZULTATI
V tem poglavju bomo predstavili rezultate kalibracije
nizkofrekvenčnega merilnika električnega polja
Wandel&Goltermann EFA-3. Sprva ovrednotimo vse
prispevke negotovosti in podamo izračun skupne
merilne negotovosti (razdelek 3.1). V nadaljevanju
prikažemo rezultate kalibracije frekvenčnega odziva in
linearnosti merilnika (razdelek 3.2). V zadnjem delu
prikažemo rezultate nekaterih dodatnih verifikacijskih
testov in vrednosti maksimalnih polj, generiranih pri
različnih frekvencah (razdelek 3.3).
3.1 Prispevki negotovosti
Pri kalibraciji merilnega instrumenta želimo preveriti,
ali je napaka kalibriranega (DUT) merilnega
instrumenta v predpisanih mejah, ki jih določa
proizvajalec oz. standard, zato je osnovni matematični
model kalibracije določen s (3). V (3) parameter E
pomeni napako instrumenta (tj. odstopanje odčitka
instrumenta od prave vrednosti električnega polja), Ex
pomeni vrednost, ki smo jo odčitali iz merilnega
instrumenta, in Es pravo vrednost električnega polja. Na
skupno merilno negotovost kalibracije tako vplivajo vsi
posamezni prispevki negotovosti, ki so povezani z
odčitkom kalibriranega merilnega instrumenta ali ki
vplivajo na pravo vrednost električnega polja. Skupno
merilno negotovost kalibracije smo izračunali s
pomočjo (4), v kateri smo upoštevali negotovost zaradi
ločljivosti kalibriranega instrumenta (ux,res), negotovost
tipa A kalibriranega instrumenta, tj. negotovost zaradi
raztrosa merilnih rezultatov ob ponavljanju meritev
(ux,tipA), negotovost zaradi specifikacije in ločljivosti
napetostnega vira (us,spec. in us,res.), negotovost pri
določanju razmika med elektrodama (us,d), negotovost
zaradi nehomogenosti električnega polja (us,h) in
negotovost zaradi prisotnosti nosilca v polju
kondenzatorja (us,n). Vsi ti posamezni prispevki
negotovosti so podrobneje obravnavani v nadaljevanju.
KALIBRACIJA MERILNIKOV NIZKOFREKVENČNEGA ELEKTRIČNEGA POLJA 143
x s x
U
E E E E
d
     (3)
2 2 2 2
, . , , .
2 2 2 2
, . , , ,
x res x tipA s U spec
s U res s d s h s n
u u u u
u u u u


   
   
(4)
Prvi obravnavani prispevek k negotovosti je
negotovost merjenja razmika med elektrodama (us,d).
Skupna razdalja med elektrodama je določena kot vsota
posameznih razdalj d1, d2 in d3 (1) in slika 1, pri čemer
smo razdalji d1 in d3 izmerili s kljunastim merilom in
razdaljo d2 s kovinskim merilom. Vse tri izmerjene
dolžine vsebujejo enake prispevke negotovosti (5).
Upoštevali smo negotovost zaradi raztrosa izmerjenih
vrednosti razdalj od povprečne vrednosti  (ui,d-povp),
specifikacijo kljunastega merila oz. ravnila, ki je bila v
vseh primerih ocenjena na 0,5 % izmerjene vrednosti
dolžine (ui,d-spec.), ter ločljivost meril (uid-res.), ki je bila
ocenjena na 0,5 mm pri ravnilu in 0,05 mm pri
kljunastem merilu.
2 2 2
3
, . , .2 , .
1 1 3 2 3
i d povp i d spec i d res
d i
i
u u u
u c
  

     
        
    

(5)
1 2 3
1
1
1 2 3
2
2
1 2 3
3
3
d( )
1
d
d( )
1
d
d( )
1
d
d d d
c
d
d d d
c
d
d d d
c
d
 
 
 
 
 
 
(6)
Zaradi dovolj velikega števila meritev razdalj smo pri
negotovosti zaradi raztrosa izmerjenih vrednosti privzeli
normalno porazdelitev, medtem ko imata preostala dva
prispevka pravokotno porazdelitveno funkcijo.
Koeficienti občutljivosti ci so pri vseh prispevkih enaki
1 (6), saj je vsota posameznih razdalj d1, d2 in d3 enaka
skupni razdalji d. V našem primeru je razdalja med
elektrodama znašala 0.4808 m, skupna negotovost
meritve razmika med elektrodama pa je bila 0.0024 m
(normalna porazdelitev s faktorjem razširitve k = 1). To
ud vrednost moramo nato pomnožiti še s koeficientom
občutljivosti cd (7), da dobimo prispevek k skupni
negotovosti električnega polja zaradi negotovosti
merjenja razmika med elektrodama (8).
2
d
d
z
d
E U
c
d d
    (7)
,
1
d d
s d
c u
u

  (8)
Na skupno negotovost kalibracije merilnika
električnega polja vpliva tudi negotovost napetostnega
vira. Upoštevali smo specifikacijo uporabljenega
kalibratorja (Uspec.), ki je odvisna od izbrane amplitude
in frekvence, ter ločljivosti kalibratorja (Ures.), ki je prav
tako odvisna od uporabljenega dosega (oz. nastavljene
amplitude) in v naših meritvah znaša 0.1 mV ali 10 mV.
Oba prispevka negotovosti (9) in (10) imata pravokotno
porazdelitveno funkcijo, njun koeficient občutljivosti cU
pa je podan z (11).
.
, .
3
spec U
s U sprec
U c
u


  (9)
.
, .
2 3
res U
s U res
U c
u




(10)
d 1
d
z
U
E
c
U d
   (11)
Pri priklopu napetosti na plošče kondenzatorja se
poleg polja v kondenzatorju generira tudi polje v
okolici kondenzatorja. Posledično aksialno polje v
kondenzatorju ni povsem homogeno, prav tako pa
nastane tudi določeno polje v smeri x oz. y (slika 1). Za
pravilno ovrednotenje skupne negotovosti je treba
oceniti homogenost polja glede na velikost merjenca
DUT [19,24]. Za določitev homogenosti električnega
polja smo uporabili matematično orodje Matlab®. Sprva
smo z metodo končnih diferenc določili potenciale v
posameznih točkah v kondenzatorju in njegovi bližnji
okolici (slika 2). Iz kvocienta razlik potencialov in
razdalj med simulacijskimi točkami v smereh z oz. x
(oz. y) smo določili aksialno polje Ez (slika 3) in polje
Slika 2: Simulacija potencialov v ploščatem kondenzatorju in
v njegovi okolici. Posamezne ekvipotencialne ravnine so med
seboj razmaknjene za 10 V.
144 BERGINC, PINTER, KOKALJ, VOLJČ, LINDIČ
Slika 3: Simulirano in normirano električno polje v z-smeri v
ploščatem kondenzatorju in v njegovi okolici (tj. Ez((x,y), z) /
Ez(0,0,0)). Razlika med dvema krivuljama pomeni spremembo
polja Ez za 2% glede na Ez polje v središču kondenzatorja.
Exy (slika 4), iz teh vrednosti pa smo nato ocenili
prispevke negotovosti zaradi nehomogenosti
električnega polja za merjence različnih dimenzij (tabela
1). V tem primeru je porazdelitvena funkcija normalna,
koeficient občutljivosti ch pa je 1, saj vsaka sprememba
električnega polja zaradi nehomogenosti neposredno
vpliva na pravo vrednost električnega polja, skupen
prispevek negotovosti zaradi nehomogenosti
električnega polja pa se izračuna s pomočjo (12).
, .
1
z h h
s h
E u c
u
 
  (12)
Tabela 1: Prispevek negotovosti zaradi nehomogenosti
električnega polja za merilnike/sonde različnih velikosti. amaks
označuje največjo stranico merilnika/sonde.
uh (%) amaks (cm)
0.5 16
1 21
2 26
3 29
4 31
5 37
Slika 4: Simulirano in normirano električno polje v x- oz. y-
smeri v ploščatem kondenzatorju in v njegovi okolici (tj.
Exy((x,y), z) / Ez(0,0,0)). Razlika med dvema krivuljama
pomeni spremembo polja Exy za 2 % glede na Ez polje v
središču kondenzatorja.
Določili smo tudi prispevek negotovosti zaradi
prisotnosti nosilca [25]. Ta ima relativno dielektričnost
r > 1, zato deloma poveča vrednost Ez, poleg tega pa je
dielektričnost praviloma tudi frekvenčno odvisna.
Ocenili smo, da je prispevek k negotovosti un zaradi
nosilca 1 % vrednosti generiranega aksialnega
električnega polja Ez (razdelek 3.3), porazdelitvena
funkcija je normalna, koeficient občutljivosti ch pa je
prav tako 1, saj sprememba električnega polja zaradi
prisotnosti nosilca ponovno neposredno vpliva na pravo
vrednost električnega polja. Prispevek negotovosti
električnega polja zaradi prisotnosti nosilca smo
izračunali z uporabo (13).
, .
1
z n h
s n
E u c
u
 
  (13)
Na skupno negotovost kalibracije vpliva tudi
negotovost merjenca DUT. Pri njem smo upoštevali
negotovost tipa A, kjer smo vzeli razliko med
maksimalno in minimalno izmerjeno vrednostjo (14),
ter ločljivost merilnika (15), ki je odvisna od
nastavljenega merilnega dosega instrumenta, in je med
0.01 V/m in 1 V/m. Pri obeh prispevkih je
predpostavljena pravokotna porazdelitev, koeficient
občutljivosti cx pa je v obeh primerih 1. Specifikacija
instrumenta ni zajeta v izračun skupne negotovosti, saj
je namen kalibracije, da preverimo ustreznost
instrumenta s specifikacijami.
KALIBRACIJA MERILNIKOV NIZKOFREKVENČNEGA ELEKTRIČNEGA POLJA 145
Slika 5: Razlike med izmerjenimi in pravimi (izračunanimi)
vrednostmi aksialnega električnega polja (tj. napake) s
pripadajočimi negotovostmi meritev pri različnih frekvencah
(Ez = 62.5 V/m ali 417 V/m). Ravna polna temno siva črta
pomeni mejne vrednosti instrumenta.
,max ,min
,
( )
2 3
x x x
x tipA
E E c
u
 


(14)
, .
, .
2 3
x res x
x res
E c
u



(15)
3.2 Kalibracija sonde
Na sliki 5 so prikazane napake (razlike med prikazanimi
vrednostmi in pravimi, izračunanimi vrednostmi Ez) s
pripadajočimi negotovostmi pri kalibraciji merilnika
Wandel&Goltermann EFA 3 v z-smeri. Med kalibracijo
je instrument zaznal le polje v z-smeri, kar potrjuje, da
sta vpliv polja Exy zaradi neidealnosti in končnih
dimenzij ploščatega kondenzatorja, kot tudi vpliv
zunanjega električnega polja zanemarljiva. Kalibracija
je bila izvedena pri 62.5 V/m pri f < 50 Hz in pri 417
V/m pri f ≥ 50 Hz. Temno sive ravne polne črte
označujejo mejne vrednosti napak, ki jih instrument ne
sme preseči. Tukaj vidimo, da instrument ustreza svojim
specifikacijam, saj so napake vključno z merilnimi
negotovostmi pod mejnimi vrednostmi. Opazimo tudi,
da so napake sistematično pozitivne. Vzrok se deloma
skriva v nosilni plošči Styrodur®, ki ima r ≈ 1.2 in zato
nekoliko poveča pravo vrednost Ez v kondenzatorju. Žal
je r na splošno frekvenčno odvisna, poleg tega pa je
površina plošče Styrodur® profilirana, zato je bila
sprememba Ez zaradi nosilca le ocenjena in vključena v
izračun skupne merilne negotovosti in ne v izračun
prave vrednosti Ez. Če bi vpliv nosilca vključili v
izračun Ez, bi se negotovost zmanjšala. Za polovico bi
se zmanjšala tudi napaka, ki pa bi še vedno ostala
sistematično pozitivna, najverjetneje zaradi prisotnosti
merjenca, ki prav tako v manjši meri spreminja vrednost
Ez [26].
Pri f > 20 kHz je opaziti hitro povečanje napake,
čeprav naj bi merilnik deloval do f = 30 kHz.
Slika 6: Razlike med izmerjenimi in pravimi (izračunanimi)
vrednostmi aksialnega električnega polja (tj. napake) s
pripadajočimi negotovostmi meritev pri različnih vrednostih
električnega polja (f = 1 kHz). Polna temno siva črta pomeni
mejne vrednosti instrumenta.
Vzrok za zdaj še ni povsem znan. Preverili smo
morebiten vpliv kabla, saj je pri višjih frekvencah padec
napetosti na kablu vedno večji zaradi induktivne narave
kabla, medtem ko napetost na kondenzatorju upada
zaradi kapacitivne narave kondenzatorja. Vseeno je
vpliv pri frekvenci 30 kHz še vedno zanemarljivo
majhen. Preverili smo tudi morebitno zmanjšanje
homogenosti električnega polja pri višjih frekvencah.
Pri tem testu smo pri konstantni napetosti U = 200 V in
pri različnih frekvencah (tj. 50 Hz, 10 kHz, 20 kHz in
30 kHz) opazovali odziv merilnika pri različnih odmikih
od središča ploščatega kondenzatorja (smer b na sliki 1;
b = 0 (središče), 5 cm, 10 cm, 15 cm, 20 cm in 25 cm).
Pri odmiku merjenca proti robu je vselej prišlo do
manjšega upada v odčitku, ki je posledica
nehomogenosti Ez (slika 3), medtem ko ni bilo mogoče
zaznati nikakršne izstopajoče frekvenčne odvisnosti, ki
bi opravičevala izrazito povečanje napake pri višjih
frekvencah (slika 5). Vzrok za povečanje napake je
morda v instrumentu, ki ni več skladen s specifikacijami
pri višjih frekvencah, v frekvenčni  odvisnosti r nosilca
ali morda v drugih razlogih.
Na podoben način smo pri f = 1 kHz izmerili tudi
linearnost merilnika Wandel&Goltermann EFA 3 v
z-smeri (slika 6). Tudi pri tem testu se je merilnik
izkazal za ustreznega, saj so napake s pripadajočimi
negotovostmi pod mejnimi vrednostmi (slika 6, temno
siva polna črta). Znova se je potrdilo, da so napake
sistematično pozitivne, saj nosilec in merjenec zaradi
svoje dielektričnosti povečujeta pravo vrednost
električnega polja.
Pri obeh testih je k skupni negotovosti kalibracije
največ prispevala negotovost zaradi nosilca. Pol manjša
sta bila prispevka zaradi nehomogenosti električnega
polja in negotovost merjenja razmika med elektrodama.
Pri nizkih frekvencah je bil dokaj velik tudi prispevek
146 BERGINC, PINTER, KOKALJ, VOLJČ, LINDIČ
zaradi negotovosti tipa A merjenca. Vpliv preostalih
virov negotovosti je bil zanemarljivo majhen.
3.3 Drugi verifikacijski testi in maksimalne vrednosti
generiranega polja
Poleg zgornjih dveh testov smo opravili tudi nekaj
drugih verifikacijskih testov, s katerimi smo želeli
preveriti pravilnost kalibracije.
Pri prvem testu smo pod ali nad merjenec namerno
dodajali dodatne 4 cm debele plošče Styrodur® in
opazovali odziv merjenca (tabela 2) pri f = 100 Hz. Po
pričakovanjih večje število plošč poveča vrednost Ez. Iz
povprečnih razlik med izmerjenimi vrednostmi smo
določili, da je prispevek k negotovosti zaradi nosilca
Styrodur® manj kot 1 % vrednosti Ez (razdelek 3.1).
Ovrednotili smo tudi vpliv lege obeh priključnih
kablov, ki sta lahko speljana neposredno v bližini
elektrod kondenzatorja ali daleč okoli (navpično glede
na posamezno elektrodo). Merjeni instrument je v obeh
primerih pokazal isti odčitek, ne glede na frekvenco
vzbujanja. Na homogenost električnega polja in s tem
na točnost meritve lahko vplivajo tudi okoliški dejavniki
(npr. prisotnost drugih instrumentov, armirane stene,
osebja, inštalacij itd.), zato standard priporoča, da je
med kalibracijo okoli kondenzatorja dovolj praznega
prostora. Da bi ovrednotili morebiten vpliv armirane
stene, smo pri različnih amplitudah (100 V, 500 V,
1000 V) in frekvencah vzbujanja (50 Hz, 100 Hz,
1 kHz, 10 kHz) pomerili odziv merjenca, pri čemer
sprva v okolici kondenzatorja ni bilo nobenih objektov,
v drugem primeru pa je bil kondenzator z eno stranico
postavljen neposredno ob armirano steno. Odčitki
merilnika se pri postavitvi kondenzatorja ob steno v
nobenem primeru niso razlikovali od predhodnih
meritev.
Tabela 2: Vpliv števila plasti Styrodur® na vrednost Ez, ki ga
pokaže merjenec. Debelina posamezne plasti Styrodur® je bila
4 cm, plasti pa so bile nameščene pod merjencem ali nad njim.
Aksialno polje brez prisotnosti nosilca naj bi bilo 208.3 V/m z
negotovostjo 2.5 V/m (normalna porazdelitev).
Št. plasti Ex (V/m)
1 212.6
2 213.7
3 216.0
4 216.9
Slika 7: Maksimalne vrednosti Ez, ki jih je mogoče generirati z
uporabljenim merilnim sestavom pri različnih frekvencah.
Pri zadnjem testu smo preverili, kakšne so
maksimalne vrednosti Ez, ki jih lahko generiramo z
našim merilnim sestavom (slika 7). Po pričakovanjih se
je izkazalo, da je v našem primeru maksimalno polje
omejeno edino z maksimalno napetostjo, ki jo lahko
generira napetostni vir (kalibrator) pri določeni
frekvenci. Pri višjih frekvencah in hkrati višjih
napetostih bi bilo lahko polje posredno omejeno tudi z
maksimalnim tokom, ki ga lahko generira napetostni vir
(tj. ~40 mA), saj se impedanca ploščatega kondenzatorja
s povečevanjem frekvence niža. Kljub vsemu je
kapacitivnost uporabljenega ploščatega kondenzatorja
zelo nizka (~18.5 pF), zato pri frekvencah do 30 kHz
maksimalni tok napetostnega vira še ni dosežen, niti pri
najvišjih napetostih kalibratorja.
4 SKLEP
V prispevku smo predstavili postopke za kalibracijo
nizkofrekvenčnih (10 Hz – 20 kHz) merilnikov
električnega polja (Ez ≤ 2100 V/m). Pri kalibraciji smo
upoštevali številne vire negotovosti; negotovost
napetostnega vira, negotovost tipa A in ločljivost
merjenca, negotovost zaradi nehomogenosti
električnega polja, negotovost zaradi prisotnega nosilca
in negotovost pri merjenju razmika med elektrodama.
Zadnji trije prispevki so se izkazali kot dominantni,
medtem ko so preostali prispevki zanemarljivo majhni.
Skupna merilna negotovost pri meritvi frekvenčnega
odziva in linearnosti je okoli 2,4 % vrednosti
generiranega električnega polja (normalna skupna
porazdelitev s faktorjem razširitve k = 2). Meritve
frekvenčnega odziva merilnika so tudi pokazale, da
začne napaka hitro naraščati pri frekvencah nad 20 kHz,
iz za zdaj še ne povsem jasnih razlogov.
KALIBRACIJA MERILNIKOV NIZKOFREKVENČNEGA ELEKTRIČNEGA POLJA 147